News

聚焦天合

首頁 > 聚焦天合 >

炭黑粒子粗糙度的剖析

2020-12-22 17:46:43
實驗得到的平均表面光潔度Ra是不同於一般表面粗糙度Ru的,如T. K Wang通過掃描隧道顯微鏡用三維圖像採取“团体法”和“个体法”計算出的粗糙度就是Ru,只是分析方法和手段不同而已,該方法是利用炭黑圖像中的灰度分佈,然後測量垂直剖面圖投影的“峰值”和“谷值”間的平均差得到的。用該方法得到的N330炭黑表面粗糙度值約爲1.33m(團體法)和0.64mm(個體法)。雖然T.K.Wang分析炭黑表面粗糙度的圖像源是三維立體的STM圖像,但是在處理圖像的時候是以二維截面投影來測量的,該方法有一定的侷限性,不能全面地分析說明炭黑粒子的三維表面起伏粗糙狀況。而用“框选法”的一系列框圖來覆蓋整個炭黑粒子的立體表面形貌,能更準確地測量和反映出炭黑粒子表面的粗糙狀況。另外避免了其他方法測量炭黑聚集體表面時由粒子間的孔隙帶來的影響。
 
借用了宏觀粗糙度的提法,把納米級的粗糙情況定義爲三維平均表面光潔度Ra,如果我們對實驗中的平均表面光潔度按照類似方法進行處理,即指定面中的以最大到第n/2峯的Z軸值的平均值和從最小到第n/2的谷底的Z軸值的平均值的差來計算,其中的n是可以設定的峯谷數,最後得到的Ru值,提到的粗糙度如無特別指出,均指的是平均表面粗糙度Ra。
 
關於炭黑粒子的粗糙度方面的剖析屬於技術層面方面的問題,供大家做個簡單的瞭解。想要了解更多的關於炭黑方面的問題,請關注我們的網站,也可撥打我們的電話諮詢炭黑相關問題。
炭黑粒子
在線諮詢
QQ諮詢
索要報價
掃一掃

掃一掃

全國免費服務熱線